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Norm [ZURÜCKGEZOGEN] 2011-03

DIN EN 55016-1-4:2011-03;VDE 0876-16-1-4:2011-03

VDE 0876-16-1-4:2011-03

Anforderungen an Geräte und Einrichtungen sowie Festlegung der Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Teil 1-4: Geräte und Einrichtungen zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Antennen und Messplätze für Messungen der gestrahlten Störaussendung (IEC/CISPR 16-1-4:2010 + Cor. :2010); Deutsche Fassung EN 55016-1-4:2010

Englischer Titel
Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus - Antennas and test sites for radiated disturbance measurements (IEC/CISPR 16-1-4:2010 + Cor. :2010); German version EN 55016-1-4:2010
Ausgabedatum
2011-03
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Originalsprachen
Deutsch

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Einführungsbeitrag

Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der 3. Ausgabe der Europäischen Norm EN 55016-1-4 (Ausgabe 2010) und ist identisch mit der 3. Ausgabe der Internationalen Norm IEC/CISPR 16-1-4 (Ausgabe 2010). Sie legt Anforderungen an Antennen und Messplätze, die der Messung von hochfrequenten gestrahlten Störaussendungen (Störfeldstärken) im Frequenzbereich 9 kHz bis 18 GHz dienen, fest. Den EMV-Produktgremien und Anwendern von Messungen der elektromagnetischen Störaussendungen wird empfohlen, die entsprechenden Festlegungen der Normenreihe IEC/CISPR 16 beziehungsweise EN 55016 zu Messgeräten, -verfahren sowie zur Messunsicherheit bei ihren Festlegungen zur Messung von hochfrequenten Störaussendungen (Funkstörungen) zu beachten. Die erforderlichen Definitionen sind in dieser Norm enthalten. Anschließend trifft sie Festlegungen für die verschiedenen Arten von Antennen zur Messung von elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern und für Messplätze einschließlich des Nachweisverfahrens für die Eignung des Messplatzes. Dabei werden die Freifeldmessplätze und (zu ihnen) alternative Messplätze betrachtet. Gegenüber der vorhergehenden Norm wurden Änderungen in Bezug auf die Ermittlung der Einflüsse des Tischs für den Prüfaufbau durchgeführt und diese Ermittlung auf Frequenzen bis 18 GHz erweitert. Die Messung des Einflusses wird ermittelt, indem die Ergebnisse mit und ohne den Tisch verglichen werden. Die Untersuchungen haben gezeigt, dass ein bestimmtes Tischmaterial unkritisch ist, während der bei Verwendung anderer Materialien entstehende Einfluss des Tischs bei der Erstellung der Unsicherheitsbilanz betrachtet werden muss. Ferner wurde der Titel der Norm besser an ihren Anwendungsbereich angepasst. Zuständig ist das UK 767.4 "Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Diese Norm ersetzt DIN EN 55016-1-4:2010-04;VDE 0876-16-1-4:2010-04 .

Dokument wurde ersetzt durch: DIN EN 55016-1-4:2013-05;VDE 0876-16-1:2013-05 .

Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

Gegenüber DIN EN 55016-1-4 (VDE 0876-16-1-4):2010-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Änderung des Titels; b) Ergänzung der normativen Verweisung auf die IEC/CISPR 16-1-5:2003 und die IEC 61000-4-20 in Abschnitt 2; c) Streichung der Definitionen der Begriffe "Bandbreite", "CISPR-Anzeigebereich" und "Drahtantenne" in 3.1; d) Ergänzung von 3.2 "Abkürzungen"; e) Streichung der so genannten regulatorischen Aussage ("... besitzt Vorrang") am Ende von 4.6; f) Erhöhung der Frequenz bis zu der die Einflüsse des Tisches für den Prüfaufbau zu ermitteln sind, auf 18 GHz in den entsprechenden Abschnitten von 5.5.1, 5.5.2; g) Ergänzung in 5.9.2, dass der Messplatz, auf dem der Einfluss des Tischs für den Prüfaufbau zu ermitteln ist, die Anforderungen an die normierte Messplatzdämpfung und/oder das Stehwellenverhältnis des Messplatzes erfüllen muss; h) weitere Ergänzungen der Festlegungen in 5.9.2 zur Ermittlung des Einflusses des Tisches für den Prüfaufbau; i) Streichung von 5.9.3, da die Ermittlung des Einflusses des Tisches für den Prüfaufbau bei Standgeräten entfällt; j) Ergänzung in Abschnitt 7, dass Messungen der Störfestigkeit gegen gestrahlte Störgrößen in TEM-Wellenleitern entsprechend IEC 61000-4-20 durchgeführt werden können; k) Ergänzung einer Anmerkung in 8.2; l) redaktionelle Überarbeitung der Norm, u. a. Richtigstellung der Bildnummerierung entsprechend der Reihenfolge und Umstellung von Formelzeichen, die aus mehreren Symbolen bestehen, in Formelzeichen, die aus einem Symbol bestehen.

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