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Norm 2003-09

DIN EN 60749-17:2003-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung (IEC 60749-17:2003); Deutsche Fassung EN 60749-17:2003

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003); German version EN 60749-17:2003
Ausgabedatum
2003-09
Originalsprachen
Deutsch
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Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.

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Ausgabedatum
2003-09
Originalsprachen
Deutsch
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DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9509576

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https://dx.doi.org/10.31030/9509576
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