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Norm 2004-09

DIN EN 60749-24:2004-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-24:2004); Deutsche Fassung EN 60749-24:2004

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004); German version EN 60749-24:2004
Ausgabedatum
2004-09
Originalsprachen
Deutsch

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Ausgabedatum
2004-09
Originalsprachen
Deutsch
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9569083

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DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9569083
Änderungsvermerk

Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

Die im Kapitel 3, Abschnitt 4C von DIN EN 60749:2002-09 festgelegten Prüfverfahren wurden unter Berücksichtigung von IEC/PAS 62336 vollständig überarbeitet, sodass das Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm der Reihe DIN EN 60749 beschrieben werden kann.

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