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Norm 2011-01

DIN ISO 11929:2011-01

Bestimmung der charakteristischen Grenzen (Erkennungsgrenze, Nachweisgrenze und Grenzen des Vertrauensbereichs) bei Messungen ionisierender Strahlung - Grundlagen und Anwendungen (ISO 11929:2010)

Englischer Titel
Determination of the characteristic limits (decision threshold, detection limit and limits of the confidence interval) for measurements of ionizing radiation - Fundamentals and application (ISO 11929:2010)
Ausgabedatum
2011-01
Originalsprachen
Deutsch
Hinweis
Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN VDE 0493 Beiblatt 1:2006-09;VDE 0493 Beiblatt 1:2006-09 empfohlen.

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Einführungsbeitrag

Wegen neuerer Entwicklungen im Messwesen hinsichtlich der Messunsicherheit, z. B. ISO/IEC Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM), bedürfen die noch auf klassischer Statistik basierenden Normen einer Überarbeitung. In der Normenreihe DIN 25482 gab es eine historisch bedingte systematische Inkonsistenz: DIN 25482-1 bis -7 beruhten auf konventioneller Statistik während DIN 25482-10 bis -13 bereits auf der Grundlage der Bayes-Statistik entwickelt wurden. Diese Inkonsistenz wird durch die Übernahme von ISO 11929:2010 behoben. Diese Norm basiert, wie DIN 25482-10:2000-05, auf der Bayes-Statistik. D. h. bei ihrer Anwendung können sowohl Standardunsicherheiten der Messung als auch Größen und Einflüsse berücksichtigt werden, die sich bei mehrmals wiederholten oder bei zählenden Messungen nicht zufällig verhalten. Die frühere Normenreihe DIN 25482 wurde in einer Norm zusammengefasst, da alle Messungen ionisierender Strahlung auf der gleichen Methode für die Bestimmung der charakteristischen Grenzen basieren. Anwendungsbeispiele finden sich jetzt in den Anhängen der Norm. Die Anwendungen bei Messungen mit Albedodosimetern (bisher DIN 25482-11:2003-02) werden wegen ihrer besonderen nationalen Bedeutung im Nationalen Anhang NC der Norm behandelt. Zuständig ist das GUK 967.2 "Aktivitätsmessgeräte für den Strahlenschutz" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE, Gemeinschaftsgremium mit dem Normenausschuss Radiologie (NAR) im DIN.

Änderungsvermerk

Diese Norm ersetzt DIN 25482-1 Beiblatt 1:1992-03 , DIN 25482-10:2000-05 , DIN 25482-11:2003-02 , DIN 25482-1:1989-04 , DIN 25482-12:2003-02 , DIN 25482-13:2003-02 , DIN 25482-2 Beiblatt 1:2000-09 , DIN 25482-2:1992-09 , DIN 25482-3:1993-02 , DIN 25482-4:1995-12 , DIN 25482-5 Beiblatt 1:1997-12 , DIN 25482-5:1993-06 , DIN 25482-6 Beiblatt 1:1998-12 , DIN 25482-6:1993-02 , DIN 25482-7:1997-12 .

Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

Gegenüber DIN 25482-1:1989-04, DIN 25482-1 Beiblatt 1:1992-03, DIN 25482-2:1992-09, DIN 25482-2 Beiblatt 1:2000-09, DIN 25482-3:1993-02, DIN 25482-4:1995-12, DIN 25482-5:1993-06, DIN 25482-5 Beiblatt 1: 1997-12, DIN 25482-6:1993-02, DIN 25482-6 Beiblatt 1:1998-12, DIN 25482-7:1997-12, DIN 25482-10:2000-05, DIN 25482-11:2003-02, DIN 25482-12:2003-02 und DIN 25482-13:2003-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Zusammenfassung zu einem Kerndokument mit Anwendungsbeispielen in den Anhängen; b) durchgängige Anwendung der Bayes-Statistik nach dem Vorbild der DIN 25482-10:2000-05, um die Messunsicherheiten nach ISO/IEC Guide 98-3, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement vollständig berücksichtigen zu können (Typ-B-Unsicherheiten konnten mit der konventionellen Statistik nicht behandelt werden); c) statt Häufigkeiten und Hypothesentests zu betrachten, wird allein auf der Basis von Wahrscheinlichkeiten unter Berücksichtigung der unvollständigen Information über die Messgröße eine Entscheidung darüber getroffen, ob ein physikalischer Effekt bei der Messung der Messgröße vorliegt oder nicht; d) Einführung von Formelzeichen mit einheitlicher Systematik: physikalische Größen werden mit Großbuchstaben bezeichnet und sorgfältig von ihren Werten unterschieden, die mit den entsprechenden Kleinbuchstaben bezeichnet werden; e) es ist vorgesehen, einführende Informationen in einem Beiblatt zu veröffentlichen, nach dem Vorbild der Einführung der Anwendung in ISO/IEC Guide 98-3, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement mit DIN VDE 0493 Beiblatt 2 (VDE 0493 Beiblatt 2):2007-06, Strahlenschutz-Messgeräte - Bestimmung der Unsicherheit beim Messen (IEC/TR 62461:2006). Auch wenn das Ergebnis der Überarbeitung teilweise zu den gleichen Gleichungen führt, ist doch die Begründung auf der Basis der Bayes-Statistik vollkommen unterschiedlich. Insbesondere bekommt der Begriff Wahrscheinlichkeit eine andere Bedeutung, die über die einfache Betrachtung von Häufigkeiten für Ergebnisse aus wiederholten Messungen und die Statistiken des Kernzerfalls hinausgeht.

Auch enthalten in
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