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Norm 1992-08

EIA JESD 24-7:1992-08

Englischer Titel
Commutating Diode Safe Operating Area Test Procedure for Measuring DV/DT During Reverse Recovery of Power Transistors
Ausgabedatum
1992-08
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  • Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

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Englisch

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