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Norm 2006-10

EIA JESD 89A:2006-10

Englischer Titel
Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices
Ausgabedatum
2006-10
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Englisch

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Dieser Artikel wurde geändert durch: EIA JESD 89-3A:2007-11 .

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