Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 17:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Kundenservice National
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Norm 2003-10-01

OEVE/OENORM EN 60749-10:2003-10-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002)
Ausgabedatum
2003-10-01
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 46,40 EUR inkl. MwSt.

ab 43,36 EUR exkl. MwSt.

Kaufoptionen

PDF-Download
  • 46,40 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 58,00 EUR

Abo 1
1

Erfahren Sie mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Ausgabedatum
2003-10-01
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Kurzreferat
In diesem Teil der Norm ist ein Prüfverfahren für das mechanische Schocken beschrieben, mit dem festgestellt wird, ob Bauelemente für den Einsatz in elektronischen Einrichtungen geeignet sind, die mäßig schweren mechanischen Schocks infolge plötzlich ausgeübter Kräfte oder abrupter Bewegungsänderungen ausgesetzt sind, welche durch raue Handhabung, Transport oder Feldeinsatz erzeugt werden. Derartige Schocks können die Betriebsmerkmale störend beeinflussen, insbesondere, wenn die Schockimpulse wiederkehrend sind. Dies ist ein zerstörendes Prüfverfahren. Es ist üblicherweise für Gehäuse mit Hohlraum anwendbar. Dieses Prüfverfahren zum mechanischen Schocken entspricht im Allgemeinen IEC 60068-2-27; allerdings sind, bedingt durch die besonderen Anforderungen an Halbleiterbauelemente, die Abschnitte der vorliegenden Norm anzuwenden.
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...