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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

OEVE/OENORM EN 60749-11:2003-10-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüvferfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel - Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002 + Corr. 1:2003)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002 + Corr. 1:2003)
Ausgabedatum
2003-10-01
Originalsprachen
Deutsch

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