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Norm 2018-11-01

OVE EN 62496-2:2018-11-01

Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten (IEC 62496-2:2017) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards (IEC 62496-2:2017) (german version)
Ausgabedatum
2018-11-01
Originalsprachen
Deutsch

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