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Norm 2018-12-01

OVE EN IEC 60749-26:2018-12-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen ESD - Human Body Model HBM IEC 60749-26:2018 deutsche Fassung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge ESD sensitivity testing - Human body model HBM IEC 60749-26:2018 german version
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2018-12-01
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