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Norm 2011-07

SN EN 60749-23+A1:2011-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Ausgabedatum
2011-07
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Deutsch

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Diese Norm ersetzt SN EN 60749-23:2004-04 .

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