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Norm 2006-08

SN EN 62373:2006-08

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Englischer Titel
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Ausgabedatum
2006-08
Originalsprachen
Deutsch

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