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Seminar S-163

Anwendung des GUM zur Berechnung der Messunsicherheit für die industrielle Messtechnik

  • 2 Tag(e)

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Zum Thema

Die Kenntnis der Messunsicherheit ist Voraussetzung für die Vergleichbarkeit und die Akzeptanz von Messergebnissen. Das Nichtbeachten der (in Normen und Regelwerken) festgelegten Anforderungen kann Wettbewerbsnachteile nach sich ziehen, weil die Güte von Messergebnissen nicht gewährleistet ist. Der ISO-»Guide to the expression of uncertainty in measurement« (GUM) bewertet nicht nur die Ergebnisse direkter Beobachtungen mit Hilfe der Statistik, sondern bezieht darüber hinaus alle Kenntnisse über die am Messergebnis beteiligten Größen mit ein. Damit wird eine realistische Bewertung der Messunsicherheit möglich. Dies hat auch ökonomische Auswirkungen. Die Anwendung des GUM lohnt sich also.

Veranstaltungsziel

In diesem DIN-Seminar machen Sie sich fit in Sachen »ISO-Guide to the expression of uncertainty in measurement«, kurz GUM:

  • Sie lernen, Messunsicherheiten nach GUM selbstständig zu bestimmen und Messunsicherheitsbilanzen zu bewerten.
  • Sie lernen, Messunsicherheitsbilanzen als Werkzeug zur systematischen Beurteilung von Messsystemen einzusetzen.

Zielgruppe

    Betreiber und Nutzer von Prüf- und Kalibrierlaboratorien, Planer von Prüfprozessen und Entwickler von Messeinrichtungen.

Programm

1. Tag

09:00 Uhr Begrüßung durch den Referenten

Einführung in die Berechnung der Messunsicherheit nach GUM

  • Die Bedeutung der Messtechnik?
  • Voraussetzungen für das Messen
  • Methoden, Verfahren und Prinzipien der Messtechnik
  • Messwert, Messabweichungen, Messunsicherheit

10:15 Uhr Kaffee & Tee / Networking

10:30 Uhr Grundbegriffe der Messtechnik

  • Internationales Wörterbuch der Metrologie
  • Größen, Größenwerte und Einheiten
  • Messung, Messgröße und Messergebnis
  • Messprinzip, Messmethode, Messverfahren
  • Messwert, wahrer Wert, vereinbarter Wert
  • Messabweichungen und Korrektion
  • Messgenauigkeit, Messrichtigkeit, Messpräzision
  • Messunsicherheit, Eigenunsicherheit, Auflösung
  • Kalibrierung und metrologische Rückführbarkeit

Modellbildung

  • Mathematisches Modell, Modellbildungsstrategien
  • Entwicklung einer Funktion in eine Taylor-Reihe
  • Linearisierung eines Modells, Empfindlichkeitskoeffizienten

12:30 Uhr Mittagspause – Einladung zum gemeinsamen Essen

13:30 Uhr Grundlagen der Wahrscheinlichkeitstheorie Teil I

  • Der Wahrscheinlichkeitsbegriff
  • Ereignisse und Zufallsgrößen
  • Mathematische Wahrscheinlichkeit
  • Verteilungs- und Dichtefunktionen

15:00 Uhr Kaffee & Tee / Networking

15:15 Uhr Grundlagen der Wahrscheinlichkeitstheorie Teil II

  • Erwartungswert einer Größe
  • Streuung, Dispersion, Varianz, Unsicherheit
  • Kovarianz, Korrelation, Korrelationskoeffizient
  • Wichtige Wahrscheinlichkeitsverteilungen
  • Faltung von Wahrscheinlichkeitsverteilungen
  • Information und Wahrscheinlichkeit

17:00 Uhr Abschließende Worte des Referenten


2.Tag

08:30 Uhr Begrüßung durch den Referenten

Grundlagen der Statistik

  • Überblick
  • Schätzung, Schätzer, Schätzwert
  • Schätzung des Erwartungswerts
  • Schätzung der Unsicherheit
  • Wenige Messwerte, t-Verteilung
  • Schätzung der Kovarianz und der Korrelation
  • Überdeckungsintervall und Überdeckungswahrscheinlichkeit

10:00 Uhr Kaffee & Tee / Networking

10:15 Uhr Die Auswertemethoden des GUM

  • Messaufgabe und Messungen
  • Mathematisches Modell der Auswertung
  • Information über die Eingangsgrößen
  • Werte und Unsicherheiten der Eingangsgrößen
  • Wert und Unsicherheit der Ausgangsgröße
  • Erweiterte Unsicherheit der Ausgangsgröße
  • Messergebnis für die Messgröße

Übung 1: Messung des Abstands paralleler Linien

  • Darstellung der parallelen Linien
  • Messaufgabe und Messverfahren
  • Messprotokoll
  • Diskussion der Messergebnisse

12:30 Uhr Mittagspause – Einladung zum gemeinsamen Essen

13:30 Uhr Übung 2: Kalibrierung eines Messschiebers

  • Messaufgabe und Messverfahren
  • Mathematisches Modell der Auswertung
  • Linearisierung des Modells
  • Information über die Eingangsgrößen
  • Werte und Unsicherheiten der Eingangsgrößen
  • Empfindlichkeitskoeffizienten der Eingangsgrößen
  • Wert und Unsicherheit der Ausgangsgröße
  • Messunsicherheitsbilanz
  • Erweiterte Messunsicherheit der Ausgangsgröße
  • Vollständiges Messergebnis

15:30 Uhr Kaffee & Tee / Networking

15:45 Uhr Entscheidungsregeln und Grenzwerte

  • Entscheidungsregeln
  • Konformität von Produkten
  • Prüfgrenzen und Sicherheitsbereiche

16:30 Uhr Abschließende Worte des Referenten und Ende des Seminars

Leistungen

inkl. Arbeitsunterlagen, Teilnahmebescheinigung, Mittagessen/Imbiss und Getränke

Inhouse-Seminar

Informationen über firmeninterne Veranstaltungen zu Sonderkonditionen bitte gesondert erfragen bei:

DIN-Akademie im Beuth Verlag

Saatwinkler Damm 42/43, 13627 Berlin
E-Mail: dinakademie@beuth.de
Auskünfte: Telefon: 030 2601-2518

Hinweise

Für die Übungen ist ein Taschenrechner ausreichend.

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