Damit wir unsere Webseiten nutzerfreundlicher gestalten und fortlaufend verbessern, verwenden wir Cookies. Wenn Sie die Webseiten weiter nutzen, stimmen Sie dadurch der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen erhalten Sie in unseren Datenschutzhinweisen und unserer Cookie-Richtlinie.

Liebe Kundinnen, liebe Kunden,

es ist soweit: 

Aus dem Beuth Verlag ist DIN Media geworden. 

Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.

Um unsere neue Website problemlos nutzen zu können, würden wir Sie bitten, Ihren Browser-Cache zu leeren. 

Herzliche Grüße

DIN Media

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70

Technische Regel [ZURÜCKGEZOGEN]

VDE/VDI 2604:1971-06

VDI/VDE 2604:1971-06

Oberflächen-Meßverfahren; Rauheitsuntersuchung mittels Interferenzmikroskopie

Englischer Titel
Surface measuring methods; roughness analysis by means of interference microscopy
Ausgabedatum
1971-06
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 67,60 EUR inkl. MwSt.

ab 63,18 EUR exkl. MwSt.

Kauf- und Sprachoptionen

PDF-Download 1

  • 67,60 EUR

Versand (3-5 Werktage) 1

  • 75,20 EUR

1

 Achtung: Dokument zurückgezogen!

Ausgabedatum
1971-06
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch VDI/VDE 2655 Blatt 1.2:2010-10 .

Auch enthalten in
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...