DIN IEC/TS 62916:2016-03 - Entwurf

In dieser Technischen Spezifikation werden ein Verfahren zur Prüfung von Bypass-Dioden diskreter Bauteile auf ihre Störfestigkeit gegen die Entladung von statischer Elektrizität (en: electrostatic discharge, ESD) und ein entsprechendes Datenanalyseverfahren beschrieben. Im Rahmen dieses Prüfverfahrens wird eine Bypass-Diode einer ESD-Prüfung mit zunehmender Beanspruchung unterzogen, und das Analyseverfahren stellt ein Mittel zur Analyse und Extrapolation der resultierenden Ausfälle mit Hilfe einer zweiparametrigen Weibull-Verteilungsfunktion dar. Ziel dieser Technischen Spezifikation ist, ein allgemeines und reproduzierbares Prüfverfahren für die Bestimmung der Stoßfestigkeitsspannung von Dioden einzuführen, das einem ESD-Ereignis im Verlauf des Herstellungs-, Verpackungs-, Transport- oder Installationsprozesses entspricht. Zuständig ist das DKE/K 373 "Photovoltaische Solarenergie-Systeme" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.