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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN ISO 13067:2021-01 - Entwurf

Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Messung der mittleren Korngröße (ISO 13067:2020); Text Deutsch und Englisch

Englischer Titel
Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size (ISO 13067:2020); Text in German and English
Erscheinungsdatum
2020-12-04
Ausgabedatum
2021-01
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
64

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Erscheinungsdatum
2020-12-04
Ausgabedatum
2021-01
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
64
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3218255

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Einführungsbeitrag

Dieses Dokument beschreibt Verfahren zur Messung der mittleren Korngröße anhand eines zweidimensionalen polierten Querschliffs mittels Elektronenrückstreubeugung (en: Electron backscatter diffraction, EBSD). Dazu ist die Messung der Orientierung, der Fehlorientierung und eines Faktors für die Qualität der Beugungsmuster als eine Funktion der Position in der kristallinen Probe erforderlich. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-18 AA "Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).

Inhaltsverzeichnis
ICS
71.040.50
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3218255
Änderungsvermerk

Dokument wurde ersetzt durch: DIN ISO 13067:2021-08 .

Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

Gegenüber DIN ISO 13067:2015-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Begriffe "3D-Korngröße", "mittlere Korngröße" und "sektionale Korngröße" eingeführt; b) Verfahren der Auswahl der abzubildenden Flächen und Kartengrößen abgeändert; c) Datenbereinigung abgeändert; d) Verfahren zur Berechnung der mittleren Korngröße hinzugefügt; e) Darstellung der Daten abgeändert; f) Verfahren zur Bestimmung der Messunsicherheit abgeändert; g) Anhang A zur Korngrößenmessung abgeändert; h) Anhang B zur Vergleichpräzision hinzugefügt.

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