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Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-4:2017-11-28

Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST)

Englischer Titel
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Ausgabedatum
2017-11-28
Originalsprachen
Englisch
Seiten
16

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