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Norm [ZURÜCKGEZOGEN] 1994-09

DIN 50438-1:1994-09

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in Silicium mittels Infrarot-Absorption - Teil 1: Sauerstoff

Englischer Titel
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in silicon by infrared absorption - Part 1: Oxygen
Ausgabedatum
1994-09
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch

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Diese Norm ersetzt DIN 50438-1:1978-01 .

Dokument wurde ersetzt durch: DIN 50438-1:1995-07 .

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