Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

Kundenservice National
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50438-1:1994-09

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in Silicium mittels Infrarot-Absorption - Teil 1: Sauerstoff

Englischer Titel
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in silicon by infrared absorption - Part 1: Oxygen
Ausgabedatum
1994-09
Originalsprachen
Deutsch

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 49,36 EUR inkl. MwSt.

ab 47,01 EUR exkl. MwSt.

Kaufoptionen

PDF-Download 1
  • 49,36 EUR

Versand (3-5 Werktage) 1
  • 59,66 EUR

1

 Achtung: Dokument zurückgezogen!

Ausgabedatum
1994-09
Originalsprachen
Deutsch

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Änderungsvermerk

Diese Norm ersetzt DIN 50438-1:1978-01 .

Dokument wurde ersetzt durch: DIN 50438-1:1995-07 .

Normen mitgestalten

Ihr Ansprechpartner

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...