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Norm [AKTUELL]
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Die Norm legt Verfahren für die Konstanzprüfung von Einkristall-Gamma-Kameras zur planaren Szintigraphie und zur Einzel-Photonen-Emissions-Tomographie (SPECT) mithilfe eines oder mehrerer Einkristall-Messköpfe einer Gamma-Kamera mit Parallelloch-Kollimatoren, einschließlich integrierter oder angeschlossener Systeme, zur Messdatenerfassung und -auswertung fest. Verfahren der Abnahmeprüfung werden in DIN EN 60789 und DIN EN 61675-2 beschrieben. Messungen nach dieser Norm sind nicht zur Erstellung von Korrekturgrößen bestimmt. Diese Norm wurde vom Arbeitsausschuss NA 080-00-03 AA "Nuklearmedizin" des Normenausschusses Radiologie (NAR) erarbeitet.
Dieses Dokument ersetzt DIN 6855-2:2005-01 .
Gegenüber DIN 6855-2:2005-01 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Begriffsdefinitionen angepasst, die für diese Norm von Belang sind; b) Zeitabstände für die Konstanzprüfungen neu festgelegt.