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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 14584:2005-11

Zerstörungsfreie Prüfung - Schallemissionsprüfung - Prüfung von metallischen Druckgeräten während der Abnahmeprüfung - Planare Ortung von Schallemissionsquellen; Deutsche Fassung EN 14584:2005

Englischer Titel
Non-destructive testing - Acoustic emission - Examination of metallic pressure equipment during proof testing - Planar location of AE sources; German version EN 14584:2005
Ausgabedatum
2005-11
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
18

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2005-11
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Deutsch
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Einführungsbeitrag

Die Europäischen Normen wurden im CEN/TC 138 "Zerstörungsfreie Prüfung" erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Die zuständigen deutschen Gremien sind der NMP 823 "Ultraschallprüfung" (EN 14584) und der NMP 822 "Durchstrahlungsprüfung und Strahlenschutz" (EN 14784-1 und -2, CEN ISO/TS 21432) im NMP. CEN ISO/TS 21432 wurde in Zusammenarbeit mit dem ISO/TC 135/SC 5 "Zerstörungsfreie Prüfung" unter intensiver deutscher Mitarbeit erstellt.
DIN EN 14584:
In der Norm ist die Methode zur Durchführung einer Schallemissionsprüfung (AT) an metallischen Druckgeräten während der Druckabnahmeprüfung unter Anwendung der planaren Ortung festgelegt. Allgemeine Grundlagen der Schallemission sind in DIN EN 13554 beschrieben. Das Ziel der Schallemissionsprüfung ist eine 100 %ige Volumenprüfung, um jene Regionen in der Struktur zu bestimmen, die als Folge von subkritischem Fehlerwachstum aktive, transiente Schallemission aufweisen, und somit die Zuverlässigkeit der Abnahmeprüfung zu erhöhen. Die Prüfung ergibt Referenzdaten für den Vergleich mit den Ergebnissen späterer Prüfungen.
DIN EN 14784-1:
In der Norm werden für Systeme der Computer-Radiographie die grundlegenden Parameter mit dem Ziel festgelegt, auf wirtschaftliche Art und Weise zufrieden stellende und wiederholbare Ergebnisse zu erreichen. Die Techniken basieren sowohl auf den grundlegenden Theorien als auch auf Testmessungen. Spezifiziert werden die Leistungsfähigkeit von Systemen der Computer-Radiographie (CR-Systeme) sowie die Messung der entsprechenden Parameter des zugehörigen Abtastsystems und der Phosphor-Speicherfolie (IP). Für diese Systeme wird eine Klassifizierung in Kombination mit festgelegten Metallfolien für die industrielle Durchstrahlungsprüfung beschrieben. Mit der Norm soll sichergestellt werden, dass die Bildgüte, soweit sie von der Kombination aus Speicherfolie und Abtastsystem beeinflusst wird, den Anforderungen von Teil 2 dieser Norm entspricht. Die Norm bezieht sich auf die Anforderungen an Filmsysteme für Durchstrahlungsprüfungen, die in DIN EN 584-1 und ISO 11699-1 definiert werden.
DIN EN 14784-2:
Die Norm enthält allgemeine Regeln für die industrielle Computer-Radiographie mit Röntgen- und Gammastrahlung zum Nachweis von Werkstofffehlern unter Anwendung von Speicherfolien (IP). Sie beruht auf den allgemeinen Grundlagen für die radiographische Untersuchung metallischer Werkstoffe mithilfe von Filmen (DIN EN 444 und ISO 5579). Die grundlegende Einstellung von Strahlenquelle, Detektor und geeigneten geometrischen Bedingungen muss nach DIN EN 444 und ISO 5579 sowie nach den entsprechenden Produktnormen durchgeführt werden, z. B. DIN EN 1435 für Schweißverbindungen und DIN EN 12681 für Anwendungen im Gießereiwesen.
In der Norm sind keine Zulässigkeitsgrenzen für Unregelmäßigkeiten festgelegt.
DIN ISO/TS 21432:
In dieser Technischen Spezifikation ist ein Verfahren zur Bestimmung von Eigenspannungen in polykristallinen Werkstoffen durch Neutronenbeugung beschrieben, das bei homogenen und inhomogenen Werkstoffen sowie bei Prüfstücken mit deutlichen Phasen angewendet werden kann.
In der Technischen Spezifikation wird ein Überblick über die Grundlagen der Neutronenbeugung gegeben. Außerdem sind Hinweise zu den Beugungsnetzebenen enthalten, an denen die Messungen für jeweils unterschiedliche Werkstoffkategorien erfolgen sollten. Die Technische Spezifikation enthält Anleitungen hinsichtlich der Richtungen, in denen die Messungen durchzuführen sind, und des zu untersuchenden Werkstoffvolumens in Bezug auf Korngröße und beabsichtigten Spannungszustand während der Messungen.

Inhaltsverzeichnis
ICS
17.140.20, 77.040.20
Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 14584:2013-07 .

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