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Norm 2002-12-01

NF C96-022-2:2002-12-01;NF EN 60749-2:2002-12-01

NF EN 60749-2:2002-12-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und Klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: low air pressure
Ausgabedatum
2002-12-01
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Französisch

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