Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

Kundenservice National
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Norm 2012-02-01

OEVE/OENORM EN 60749-30:2012-02-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (german version)
Ausgabedatum
2012-02-01
Originalsprachen
Deutsch

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 77,90 EUR inkl. MwSt.

ab 74,19 EUR exkl. MwSt.

Kaufoptionen

PDF-Download
  • 77,90 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 97,40 EUR

Abo 1
1

Jetzt 1 Jahr gratis testen: Abonnements-Lösungen für Normen

Ausgabedatum
2012-02-01
Originalsprachen
Deutsch

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...