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Norm 2012-11

SN EN 60749-27+A1:2012-11

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Ausgabedatum
2012-11
Originalsprachen
Deutsch

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Diese Norm ersetzt SN EN 60749-27:2006-08 .

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