Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

Kundenservice National
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Norm [AKTUELL]

SN EN 62047-3:2006-09

Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik. Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices. Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing
Ausgabedatum
2006-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 24,40 EUR inkl. MwSt.

ab 22,80 EUR exkl. MwSt.

Kaufoptionen

PDF-Download
  • 57,30 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 63,80 EUR

  • 24,40 EUR

  • 24,40 EUR

Abo 1
1

Erfahren Sie mehr zu: Abonnement-Lösungen für Normen

2

Anerkennungsnotiz, enthält nicht das Referenzdokument

Ausgabedatum
2006-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...