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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-20:2012-07-01

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by AENOR in July of 2012.)
Ausgabedatum
2012-07-01
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Originalsprachen
Englisch
Seiten
27

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