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Technische Regel Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2018-03 - Entwurf

Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung

Englischer Titel
Optical measurement of microtopography - Calibration of interference microscopes for form measurement
Ausgabedatum
2018-03
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
31

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Kurzreferat
Die Richtlinie charakterisiert die Interferenzmikroskope in ihren messtechnischen Eigenschaften zum Messen der Oberflächen von Formelementen. Darin eingeschlossen sind die Rückführung und die Berechnung der Messunsicherheit beim Messen von Form-Kenngrößen. Die beschriebenen Verfahren sind zusätzlich zu den in VDI 2655 Blatt 1.1 genannten Interferenzmikroskopen auch auf Interferometer anwendbar, deren Messfelder Abmessungen bis ca. Ø 20 mm haben können.
Inhaltsverzeichnis
ICS
17.180.01
Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2020-02 .

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