Damit wir unsere Webseiten nutzerfreundlicher gestalten und fortlaufend verbessern, verwenden wir Cookies. Wenn Sie die Webseiten weiter nutzen, stimmen Sie dadurch der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen erhalten Sie in unseren Datenschutzhinweisen und unserer Cookie-Richtlinie.

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

Beuth Kundenservice
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Technische Regel Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2018-03 - Entwurf

Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung

Englischer Titel
Optical measurement of microtopography - Calibration of interference microscopes for form measurement
Ausgabedatum
2018-03
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
31

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 89,80 EUR inkl. MwSt.

ab 83,93 EUR exkl. MwSt.

Kauf- und Sprachoptionen

PDF-Download 1

  • 89,80 EUR

Versand (3-5 Werktage) 1

  • 99,80 EUR

1

 Achtung: Dokument zurückgezogen!

Ausgabedatum
2018-03
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
31

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Kurzreferat
Die Richtlinie charakterisiert die Interferenzmikroskope in ihren messtechnischen Eigenschaften zum Messen der Oberflächen von Formelementen. Darin eingeschlossen sind die Rückführung und die Berechnung der Messunsicherheit beim Messen von Form-Kenngrößen. Die beschriebenen Verfahren sind zusätzlich zu den in VDI 2655 Blatt 1.1 genannten Interferenzmikroskopen auch auf Interferometer anwendbar, deren Messfelder Abmessungen bis ca. Ø 20 mm haben können.
Inhaltsverzeichnis
ICS
17.180.01
Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2020-02 .

Auch enthalten in
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...