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Norm [AKTUELL] 2020-07-03

BS ISO 21395-1:2020-07-03
Optics and photonics. Test method for refractive index of optical glasses. Minimum deviation method

ab 267,20 EUR inkl. MwSt.

ab 249,72 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2022-03-21

BS ISO 21395-2:2022-03-21
Optics and photonics. Test method for refractive index of optical glasses. V-block refractometer method

ab 313,50 EUR inkl. MwSt.

ab 292,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2019-12-18

BS ISO 21466:2019-12-18
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Method for evaluating critical dimensions by CDSEM

ab 372,60 EUR inkl. MwSt.

ab 348,22 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2017-09-27

PD ISO/TR 21477:2017-09-27
Optics and photonics. Preparation of drawings for optical elements and systems. Surface imperfection specification and measurement systems

180,10 EUR inkl. MwSt.

168,32 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2018-07-03

BS ISO 21575:2018-07-03
Optics and photonics. Optical materials and components. The powder test method for the water resistance of optical glass

ab 161,90 EUR inkl. MwSt.

ab 151,31 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014-04-30

BS ISO 22493:2014-04-30
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary

ab 267,20 EUR inkl. MwSt.

ab 249,72 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2020-06-03

BS ISO 22531:2020-06-03
Optics and photonics. Optical materials and components. Test method for climate resistance of optical glass

ab 192,70 EUR inkl. MwSt.

ab 180,09 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2020-04-21

BS ISO 22576:2020-04-21
Optics and photonics. Optical materials and components. Specification of calcium fluoride used in the infrared spectrum

ab 161,90 EUR inkl. MwSt.

ab 151,31 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2021-04-26

BS ISO 23364:2021-04-26
Optics and Photonics. Bulk absorption optical filters. Part 1: definitions and optical properties

ab 267,20 EUR inkl. MwSt.

ab 249,72 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2009-06-30

BS ISO 23584-1:2009-06-30
Optik und Photonik. Festlegung eines Merkmallexikons. Übersicht über Aufbau und Struktur

ab 267,20 EUR inkl. MwSt.

ab 249,72 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012-08-31

BS ISO 23584-2:2012-08-31
Optics and photonics. Specification of reference dictionary. Classes' and properties' definitions

ab 426,60 EUR inkl. MwSt.

ab 398,69 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012-04-30

BS ISO 25297-1:2012-04-30
Optics and photonics. Electronic exchange of optical data. NODIF information model

ab 403,40 EUR inkl. MwSt.

ab 377,01 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012-01-31

BS ISO 25297-2:2012-01-31
Optics and photonics. Electronic exchange of optical data. Mapping to the classes and properties defined in ISO 23584

ab 267,20 EUR inkl. MwSt.

ab 249,72 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2023-10-26

BS ISO 29301:2023-10-26
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures

ab 372,60 EUR inkl. MwSt.

ab 348,22 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2023-04-05

BS IEC 62977-3-4:2023-04-05
Electronic displays. Evaluation of optical performances. High dynamic range displays

ab 354,60 EUR inkl. MwSt.

ab 331,40 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1958

ASME B1.11:1958; ANSI B 1.11:1958; ASA B 1.11:1958
Mikroskopobjektivgewinde

ab 38,50 EUR inkl. MwSt.

ab 35,98 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2023

ASTM C 1661:2023
Standard Guide for Viewing Systems for Remotely Operated Facilities

ab 96,30 EUR inkl. MwSt.

ab 90,00 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1982

ASTM E 211:1982
Abdeckgläser und Glasträger für die Mikroskopie

ab 58,90 EUR inkl. MwSt.

ab 55,05 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014

ASTM E 766:2014
Eichung der Vergrößerung von REM (Rasterelektronenmikroskopen) unter Verwendung der Eichprobe NBS-SRM-484

ab 67,40 EUR inkl. MwSt.

ab 62,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2004

ASTM E 986:2004
Richtlinien für die Bestimmung der Leistungskennwerte von Rasterelektonenmikroskopen

ab 58,90 EUR inkl. MwSt.

ab 55,05 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996

ASTM E 1791:1996
Übertragungsnormen für den Reflexionsfaktor für Geräte im nahen Infrarotbereich unter Verwendung hemisphärischer Geometrie

ab 58,90 EUR inkl. MwSt.

ab 55,05 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014

ASTM E 1951:2014
Standard Guide for Calibrating Reticles and Light Microscope Magnifications

ab 67,40 EUR inkl. MwSt.

ab 62,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2023

ASTM E 2228a:2023
Standard Guide for Microscopical Examination of Textile Fibers

ab 73,80 EUR inkl. MwSt.

ab 68,97 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2009

ASTM E 2642:2009
Standard Terminology for Scientific Charge-Coupled Device (CCD) Detectors

ab 67,40 EUR inkl. MwSt.

ab 62,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2016

ASTM F 1863:2016
Standard Test Method for Measuring the Night Vision Goggle-Weighted Transmissivity of Transparent Parts

ab 67,40 EUR inkl. MwSt.

ab 62,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1964

EIA-300:1964
3" Image Orthicons, Methods of Test for R(1979)
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Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

Preis auf Anfrage

Norm [AKTUELL] 1995-05

EIA/TIA-6200000:1995-05
Generic Specification for Passive Optical Branching Devices
Information

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Preis auf Anfrage

Norm [AKTUELL] 2018

AS ISO 19109:2018
Geographic information - Rules for application schema

ab 171,70 EUR inkl. MwSt.

ab 160,47 EUR exkl. MwSt.

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