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Energie- und Elektrotechnik

1.083 Suchergebnisse

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Norm [AKTUELL] 1970-02

EIA JESD 371:1970-02
Measurement of Small-Signal VHF-UHF Transistor Short-Circuit Forward Current Transfer Ratio
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Norm [AKTUELL] 1970-05

EIA JESD 372:1970-05
The Measurement of Small-Signal VHF-UHF Transistor Admittance Parameters
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Norm [AKTUELL] 1992-07

EIA JESD 381A:1992-07
Method of Diode "Q" Measurement
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Norm [AKTUELL] 1972-07

EIA JESD 398:1972-07
Measurement of Small Values of Transistor Capacitance
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Norm [AKTUELL] 1980-10

EIA JESD 419A:1980-10
Standard List of Values to be Used in Semiconductor Device Specifications and Registration Formats
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Norm [AKTUELL] 1976-04

EIA JESD 435:1976-04
Standard for the Measurement of Small-Signal Transistor Scattering Parameters
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Norm [AKTUELL] 1984-08

EIA JESD 482-A:1984-08
List of Preferred Values for Use on Various Types of Small Signal and Regulator Diodes
Information

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Norm [AKTUELL] 1986-07

EIA JESD 531:1986-07
Thermal Resistance Test Method for Signal and Regulator Diodes (Forward Voltage, Switching Method)
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Technische Regel [AKTUELL] 2022

EIA JS-002:2022
Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
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Technische Regel [AKTUELL] 2000-08

EIA SSB-1-C:2000-08
Guidelines for Using Plastic Encapsulated Microcircuits and Semiconductors in Military, Aerospace and Other Rugged Applications
Information

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Norm [AKTUELL] 2017

IEEE 1804:2017
IEEE Standard for Fault Accounting and Coverage Reporting (FACR) for Digital Modules

ab 61,00 EUR inkl. MwSt.

ab 57,01 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2013

IEEE 62860:2013
IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials

ab 222,60 EUR inkl. MwSt.

ab 208,04 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2013

IEEE 62860-1:2013
IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators

ab 157,10 EUR inkl. MwSt.

ab 146,82 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2009-10-23

IEEE C 62.37 Errata:2009-10-23
Test Specification for thyristor diode surge protective devices; Errata

Kostenlos

Norm [AKTUELL] 2012

IEEE C 62.37.1:2012
IEEE Guide for the Application of Thyristor Surge Protective Device Components

ab 148,00 EUR inkl. MwSt.

ab 138,32 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2019

IEEE C 62.59:2019
IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes

ab 71,20 EUR inkl. MwSt.

ab 66,54 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003

IEEE/ANSI N 42.31:2003; ANSI N 42.31:2003
American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation

ab 109,60 EUR inkl. MwSt.

ab 102,43 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2019-02-08

SAE ARP 6338A:2019-02-08
Process for Assessment and Mitigation of Early Wearout of Life-Limited Microcircuits

108,10 EUR inkl. MwSt.

101,03 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2022-12-06

UL 1557:2022-12-06
Elektrisch getrennte Halbleiterbauelemente

ab 430,10 EUR inkl. MwSt.

ab 401,96 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2017-01-27

UL 1993:2017-01-27
Vorschaltgerätlose Lampen und Lampenadapter

ab 766,10 EUR inkl. MwSt.

ab 715,98 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2016

AS IEC 62477.1:2016
Safety requirements for power electronic converter systems and equipment General

ab 221,40 EUR inkl. MwSt.

ab 206,92 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2010-02-11

ABNT NBR IEC 60749-1:2010-02-11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 1: General

ab 29,60 EUR inkl. MwSt.

ab 27,66 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-01-06

ABNT NBR IEC 60749-3:2011-01-06
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 3: External visual examination

ab 19,70 EUR inkl. MwSt.

ab 18,41 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2010-06-29

ABNT NBR IEC 60749-4:2010-06-29
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

ab 39,50 EUR inkl. MwSt.

ab 36,92 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-01-05

ABNT NBR IEC 60749-6:2011-01-05
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 6: Storage at high temperature

ab 19,70 EUR inkl. MwSt.

ab 18,41 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-12-05

ABNT NBR IEC 60749-11:2011-12-05
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 11: Storage at high temperature - Two-fl uid-bath method

ab 29,60 EUR inkl. MwSt.

ab 27,66 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012-07-26

ABNT NBR IEC 60749-23:2012-07-26
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life

ab 39,50 EUR inkl. MwSt.

ab 36,92 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-01-24

ABNT NBR IEC 60749-25:2011-01-24
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling

ab 65,20 EUR inkl. MwSt.

ab 60,93 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-02-28

ABNT NBR IEC 60749-27:2011-02-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine Model (MM)

ab 65,20 EUR inkl. MwSt.

ab 60,93 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-03-02

ABNT NBR IEC 60749-29:2011-03-02
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test

ab 100,70 EUR inkl. MwSt.

ab 94,11 EUR exkl. MwSt.

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