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Energie- und Elektrotechnik

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Norm [AKTUELL] 1999-10

EIA JESD 51-8:1999-10
Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental Conditions - Junction-to-Board
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Norm [AKTUELL] 2009-06

EIA JESD 51-13:2009-06
Glossary of Thermal Measurement Terms and Definitions
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Norm [AKTUELL] 2010-11

EIA JESD 51-14:2010-11
Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction to Case of Semiconductor Devices with Heat Flow Trough a Single Path
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Norm [AKTUELL] 2008-07

EIA JESD 51-31:2008-07
Thermal Test Environment Modifications for MultiChip Packages
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Norm [AKTUELL] 2010-12

EIA JESD 51-32:2010-12
EXTENSION TO JESD51 THERMAL TEST BOARD STANDARDS TO ACCOMMODATE MULTI-CHIP PACKAGES
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Norm [AKTUELL] 1996-12

EIA JESD 57:1996-12
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation
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Norm [AKTUELL] 2004-09

EIA JESD 60A:2004-09
A Procedure for Measuring P-Channel MOSFET Hot-Carrier- Induced Degradation Under DC Stress
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Norm [AKTUELL] 1999-11

EIA JESD 66:1999-11
Transient Voltage Suppressor Standard for Thyristor Surge Protective Device Rating Verification and Characteristic Testing
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Norm [AKTUELL] 2004-07

EIA JESD 75-5:2004-07
SON/QFN Package Pinouts Standardized for 1-, 2-, and 3-Bit Logic Functions
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Norm [AKTUELL] 2006-03

EIA JESD 75-6:2006-03
PSO-N/PQFN Pinouts Standardized for 14-, 16-, 20-, and 24-Lead Logic Functions
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Norm [AKTUELL] 2012-08

EIA JESD 77D:2012-08
Terms, Definitions, and Letter Symbols for Discrete Semiconductor and Optoelectronic Devices
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Norm [AKTUELL] 2007-10

EIA JESD 89-1A:2007-10
Test Method for Real-Time Soft Error Rate
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Norm [AKTUELL] 2007-10

EIA JESD 89-2A:2007-10
Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
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Norm [AKTUELL] 2007-11

EIA JESD 89-3A:2007-11
Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
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Norm [AKTUELL] 2006-10

EIA JESD 89A:2006-10
Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices
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Norm [AKTUELL] 2017-03

EIA JESD 210A:2017-03
Avalanche Breakdown Diode (ABD) Transient Voltage Suppressors
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Norm [AKTUELL] 2009-12

EIA JESD 211:2009-12
Zener and Voltage Regulator Diode Rating Verification and Characterization Testing
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Norm [AKTUELL] 1986-03

EIA JESD 236-C:1986-03
Color Coding of Discrete Semiconductor Devices
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Norm [AKTUELL] 2023-01

EIA JESD 282B.02:2023-01
Silicon Rectifier Diodes
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Norm [AKTUELL] 2000-02

EIA JESD 286-B:2000-02
Standard for Measuring Forward Switching Characteristics of Semiconductor Diodes
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Norm [AKTUELL] 1965-01

EIA JESD 302:1965-01
Ranges and Conditions for Specifying Beta for Low Power, Audio Frequency Transistors for Entertainment Service
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Norm [AKTUELL] 1965-05

EIA JESD 306:1965-05
Measurement of Small Signal HF, VHF, and UHF Power Gain of Transistors
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Norm [AKTUELL] 1992-01

EIA JESD 307:1992-01
Voltage Regulator Diode Noise Voltage Measurement
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Norm [AKTUELL] 1981-11

EIA JESD 311A:1981-11
Measurement of Transistor Noise Figure at MF, HF, and VHF
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Norm [AKTUELL] 1975-10

EIA JESD 313B:1975-10
Conduction Cooled Power Transistors, Thermal Resistance Measurements of
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Norm [AKTUELL] 1992-12

EIA JESD 320-A:1992-12
Conditions for Measurement of Diode Static Parameters
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Norm [AKTUELL] 1976-04

EIA JESD 321C:1976-04
Numbering of Like-Named Terminal Functions in Semiconductor Devices and Designation of Units in Multiple-Unit Semiconductor Devices
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Norm [AKTUELL] 1968-04

EIA JESD 353:1968-04
The Measurement of Transistor Noise Figure at Frequencies up to 20 kHz by Sinusoidal Signal-Generator Method
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Norm [AKTUELL] 1968-04

EIA JESD 354:1968-04
The Measurement of Transistor Equivalent Noise Voltage and Equivalent Noise Current at Frequencies of up to 20 kHz
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Norm [AKTUELL] 1982-02

EIA JESD 370B:1982-02
Designation System for Semiconductor Devices
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