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Energie- und Elektrotechnik

523 Suchergebnisse

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Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190107:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte TTL FAST-Schaltungen - Serien 54 F, 74 F; Deutsche Fassung EN 190107:1994

ab 56,60 EUR inkl. MwSt.

ab 52,90 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190108:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte TTL Advanced Schottky-Schaltungen - Serien 54 AS, 74 AS; Deutsche Fassung EN 190108:1994

ab 56,60 EUR inkl. MwSt.

ab 52,90 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190109:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte HC MOS-Schaltungen - Serien HC/HCT/HCU; Deutsche Fassung EN 190109:1994

ab 99,10 EUR inkl. MwSt.

ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190110:1996-11
Vordruck für Bauartspezifikation - Integrierte Mikroprozessor-Schaltungen; Deutsche Fassung EN 190110:1994

ab 77,90 EUR inkl. MwSt.

ab 72,80 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1995-06

DIN EN 190116:1995-06
Familienspezifikation: Integrierte AC MOS Digitalschaltungen; Deutsche Fassung EN 190116:1993

ab 99,10 EUR inkl. MwSt.

ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

Vornorm 2015-08

DIN IEC/TS 61967-3:2015-08; VDE V 0847-21-3:2015-08
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen - Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC/TS 61967-3:2014)

Techniken zur Abtastung von Nahfeldern, die von integrierten Schaltungen und deren Umgebung ausgesendet werden, können die Aussendungsbereiche identifizieren, die möglicherweise nahegelegene ...

Verfahren : Vornorm

74,04 EUR inkl. MwSt.

69,20 EUR exkl. MwSt.

Vornorm 2015-08

DIN IEC/TS 62132-9:2015-08; VDE V 0847-22-9:2015-08
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC/TS 62132-9:2014)

Techniken zur Erzeugung von Nahfeldern über integrierten Schaltungen und deren Umgebung können die aussendungsempfindlichen Bereiche identifizieren, die möglicherweise Fehler im Gerät verursachen ...

Verfahren : Vornorm

63,27 EUR inkl. MwSt.

59,13 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2000-06-30

IPC 1730A:2000-06-30
1730A - Laminator Qualification Profile

Kostenlos

Norm [AKTUELL] 2018-01-01

IPC 7094A:2018-01-01
Design and Assembly Process Implementation for Flip Chip and Die-Size Components

195,80 EUR inkl. MwSt.

182,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-02-20

IPC J-STD-027:2003-02-20
Mechanical Outline Standard for Flip Chip and Chip Size Configurations

110,20 EUR inkl. MwSt.

102,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014-03-24

IPC J-STD-030A:2014-03-24
Selection and Application of Board Level Underfill Materials

195,80 EUR inkl. MwSt.

182,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2018-12

IPC JEDEC 9301:2018-12
Numerical Analysis Guidelines for Microelectronics Packaging Design and Reliability

186,20 EUR inkl. MwSt.

174,02 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1992-08

IPC MC-790:1992-08
Guidelines for Multichip Module Technology Utilization

195,80 EUR inkl. MwSt.

182,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1990-11-01

IPC SM-784:1990-11-01
Guidelines for Chip-on-Board Technology Implementation

153,00 EUR inkl. MwSt.

142,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2021-11-01

IPC T-50N:2021-11-01
Terms and Definitions for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits

195,80 EUR inkl. MwSt.

182,99 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1995-02-01

OENORM EN 60821:1995-02-01
IEC-821-VMEbus - Mikroprozessor-Systembus für 1 Byte bis 4 Byte Daten (IEC 821:1991, modifiziert)

573,86 EUR inkl. MwSt.

536,32 EUR exkl. MwSt.

Norm-Entwurf 2004-08-01

OEVE/OENORM EN 50439-1:2004-08-01 - Entwurf
Eisenbahnwesen - Zuverlässigkeitstests für Hochleistungskomponenten - Teil 1: Standard-Basisplatten-Module

ab 26,97 EUR inkl. MwSt.

ab 25,21 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2005-04-01

OEVE/OENORM EN 60747-16-10:2005-04-01
Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004)

ab 203,63 EUR inkl. MwSt.

ab 190,31 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-09-01

OEVE/OENORM EN 61523-2:2003-09-01
Delay and power calculation standards - Part 2: Pre-layout delay calculation specification for CMOS ASIC libraries (IEC 61523-2:2002)

ab 160,41 EUR inkl. MwSt.

ab 149,92 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2001-12-01

OEVE/OENORM EN 61943:2001-12-01
Integrierte Schaltkreise - Anwendungsleitfaden für die Anerkennung von Fertigungslinien (IEC 61943:1999)

ab 130,61 EUR inkl. MwSt.

ab 122,07 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2000-04-01

OEVE/OENORM EN 61964:2000-04-01
Integrierte Schaltungen - Kontaktanordnungen für Speicherbauelemente (IEC 61964:1999)

ab 86,54 EUR inkl. MwSt.

ab 80,88 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2006-04-01

OEVE/OENORM EN 61967-2:2006-04-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005)

ab 130,61 EUR inkl. MwSt.

ab 122,07 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-11-01

OEVE/OENORM EN 61967-5:2003-11-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Verfahren mit Faradayschem Käfig für Messtische (IEC 61967-5:2003)

ab 130,61 EUR inkl. MwSt.

ab 122,07 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2008-12-01

OEVE/OENORM EN 61967-6:2008-12-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008)

ab 170,23 EUR inkl. MwSt.

ab 159,09 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012-05-01

OEVE/OENORM EN 61967-8:2012-05-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 61967-8:2011) (deutsche Fassung)

ab 59,80 EUR inkl. MwSt.

ab 55,89 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-08-01

OEVE/OENORM EN 62132-2:2011-08-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010) (deutsche Fassung)

ab 76,61 EUR inkl. MwSt.

ab 71,60 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2008-05-01

OEVE/OENORM EN 62132-3:2008-05-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren (IEC 62132-3:2007)

ab 143,60 EUR inkl. MwSt.

ab 134,21 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2006-11-01

OEVE/OENORM EN 62132-4:2006-11-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Verfahren direkter Einspeisung der HF-Leistung (IEC 62132-4:2006)

ab 130,61 EUR inkl. MwSt.

ab 122,07 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2006-06-01

OEVE/OENORM EN 62132-5:2006-06-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem Arbeitskäfig (IEC 62132-5:2005)

ab 130,61 EUR inkl. MwSt.

ab 122,07 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2013-04-01

OEVE/OENORM EN 62132-8:2013-04-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2012) (deutsche Fassung)

ab 59,80 EUR inkl. MwSt.

ab 55,89 EUR exkl. MwSt.

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