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Energie- und Elektrotechnik

553 Suchergebnisse

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Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190106:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte TTL Advanced Low Power Schottky-Schaltungen - Serien 54 ALS, 74 ALS; Deutsche Fassung EN 190106:1994

ab 54,40 EUR inkl. MwSt.

ab 50,84 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190107:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte TTL FAST-Schaltungen - Serien 54 F, 74 F; Deutsche Fassung EN 190107:1994

ab 54,40 EUR inkl. MwSt.

ab 50,84 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190108:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte TTL Advanced Schottky-Schaltungen - Serien 54 AS, 74 AS; Deutsche Fassung EN 190108:1994

ab 54,40 EUR inkl. MwSt.

ab 50,84 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190109:1996-11
Familienspezifikation - Digitale integrierte HC MOS-Schaltungen - Serien HC/HCT/HCU; Deutsche Fassung EN 190109:1994

ab 95,30 EUR inkl. MwSt.

ab 89,07 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1996-11

DIN EN 190110:1996-11
Vordruck für Bauartspezifikation - Integrierte Mikroprozessor-Schaltungen; Deutsche Fassung EN 190110:1994

ab 74,90 EUR inkl. MwSt.

ab 70,00 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1995-06

DIN EN 190116:1995-06
Familienspezifikation: Integrierte AC MOS Digitalschaltungen; Deutsche Fassung EN 190116:1993

ab 95,30 EUR inkl. MwSt.

ab 89,07 EUR exkl. MwSt.

Vornorm 2015-08

DIN IEC/TS 61967-3:2015-08; VDE V 0847-21-3:2015-08
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen - Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC/TS 61967-3:2014)

Techniken zur Abtastung von Nahfeldern, die von integrierten Schaltungen und deren Umgebung ausgesendet werden, können die Aussendungsbereiche identifizieren, die möglicherweise nahegelegene ...

Verfahren : Vornorm

71,88 EUR inkl. MwSt.

67,18 EUR exkl. MwSt.

Vornorm 2015-08

DIN IEC/TS 62132-9:2015-08; VDE V 0847-22-9:2015-08
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC/TS 62132-9:2014)

Techniken zur Erzeugung von Nahfeldern über integrierten Schaltungen und deren Umgebung können die aussendungsempfindlichen Bereiche identifizieren, die möglicherweise Fehler im Gerät verursachen ...

Verfahren : Vornorm

61,43 EUR inkl. MwSt.

57,41 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2000-06-30

IPC 1730A:2000-06-30
1730A - Laminator Qualification Profile

Kostenlos

Norm [AKTUELL] 2018-01-01

IPC 7094A:2018-01-01
Design and Assembly Process Implementation for Flip Chip and Die-Size Components

193,70 EUR inkl. MwSt.

181,03 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-02-20

IPC J-STD-027:2003-02-20
Mechanical Outline Standard for Flip Chip and Chip Size Configurations

108,10 EUR inkl. MwSt.

101,03 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014-03-24

IPC J-STD-030A:2014-03-24
Selection and Application of Board Level Underfill Materials

193,70 EUR inkl. MwSt.

181,03 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2018-12

IPC JEDEC-9301:2018-12
Numerical Analysis Guidelines for Microelectronics Packaging Design and Reliability

184,00 EUR inkl. MwSt.

171,96 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1992-08

IPC MC-790:1992-08
Guidelines for Multichip Module Technology Utilization

193,70 EUR inkl. MwSt.

181,03 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1990-11-01

IPC SM-784:1990-11-01
Guidelines for Chip-on-Board Technology Implementation

151,90 EUR inkl. MwSt.

141,96 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2015-05-26

IPC T-50M:2015-05-26
Terms and Definitions for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits

193,70 EUR inkl. MwSt.

181,03 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1995-02-01

OENORM EN 60821:1995-02-01
IEC-821-VMEbus - Mikroprozessor-Systembus für 1 Byte bis 4 Byte Daten (IEC 821:1991, modifiziert)

543,95 EUR inkl. MwSt.

508,36 EUR exkl. MwSt.

Norm-Entwurf 2004-08-01

OEVE/OENORM EN 50439-1:2004-08-01 - Entwurf
Eisenbahnwesen - Zuverlässigkeitstests für Hochleistungskomponenten - Teil 1: Standard-Basisplatten-Module

ab 25,55 EUR inkl. MwSt.

ab 23,88 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2005-04-01

OEVE/OENORM EN 60747-16-10:2005-04-01
Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004)

ab 193,01 EUR inkl. MwSt.

ab 180,38 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-02-01

OEVE/OENORM EN 61523-1:2003-02-01
Delay and power calculation standards - Part 1: Integrated circuit delay and power calculation systems (IEC 61523-1:2001)

ab 426,25 EUR inkl. MwSt.

ab 398,36 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-09-01

OEVE/OENORM EN 61523-2:2003-09-01
Delay and power calculation standards - Part 2: Pre-layout delay calculation specification for CMOS ASIC libraries (IEC 61523-2:2002)

ab 152,05 EUR inkl. MwSt.

ab 142,10 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2001-12-01

OEVE/OENORM EN 61943:2001-12-01
Integrierte Schaltkreise - Anwendungsleitfaden für die Anerkennung von Fertigungslinien (IEC 61943:1999)

ab 123,81 EUR inkl. MwSt.

ab 115,71 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2000-04-01

OEVE/OENORM EN 61964:2000-04-01
Integrierte Schaltungen - Kontaktanordnungen für Speicherbauelemente (IEC 61964:1999)

ab 82,02 EUR inkl. MwSt.

ab 76,65 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2006-04-01

OEVE/OENORM EN 61967-2:2006-04-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005)

ab 123,81 EUR inkl. MwSt.

ab 115,71 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2006-08-01

OEVE/OENORM EN 61967-4+A1:2006-08-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2002 + A1:2006)

ab 152,05 EUR inkl. MwSt.

ab 142,10 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-11-01

OEVE/OENORM EN 61967-5:2003-11-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Verfahren mit Faradayschem Käfig für Messtische (IEC 61967-5:2003)

ab 123,81 EUR inkl. MwSt.

ab 115,71 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2008-12-01

OEVE/OENORM EN 61967-6:2008-12-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008)

ab 161,36 EUR inkl. MwSt.

ab 150,80 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012-05-01

OEVE/OENORM EN 61967-8:2012-05-01
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 61967-8:2011) (deutsche Fassung)

ab 56,68 EUR inkl. MwSt.

ab 52,97 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011-08-01

OEVE/OENORM EN 62132-2:2011-08-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010) (deutsche Fassung)

ab 72,62 EUR inkl. MwSt.

ab 67,87 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2008-05-01

OEVE/OENORM EN 62132-3:2008-05-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren (IEC 62132-3:2007)

ab 136,12 EUR inkl. MwSt.

ab 127,21 EUR exkl. MwSt.

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