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Energie- und Elektrotechnik

34 Suchergebnisse

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Norm [AKTUELL] 1983-11

DIN 1715-1:1983-11
Thermobimetalle; Technische Lieferbedingungen

ab 45,50 EUR inkl. MwSt.

ab 42,52 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1983-11

DIN 1715-2:1983-11
Thermobimetalle; Prüfung der spezifischen thermischen Krümmung

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1987-08

DIN 50450-1:1987-08
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mittels einer Diphosphorpentoxidzelle

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1991-03

DIN 50450-2:1991-03
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Meßzelle

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1993-09

DIN 50450-4:1993-09
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung von C₁-C₃-Kohlenwasserstoffen in Stickstoff mit Gaschromatographie

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2021-07

DIN 50450-9:2021-07
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen - Teil 9: Bestimmung von Sauerstoff, Stickstoff, Kohlenstoffmonooxid, Kohlenstoffdioxid, Wasserstoff und C₁-C₃-Kohlenwasserstoffen in Chlorwasserstoff mit Gaschromatographie

Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung des Stoffmengenanteils an Sauerstoff, Stickstoff, Kohlenstoffmonooxid, Kohlenstoffdioxid, Wasserstoff und C1-C3-Kohlenwasserstoffen in ...

ab 38,90 EUR inkl. MwSt.

ab 36,36 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-04

DIN 50451-1:2003-04
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 1: Silber (Ag), Gold (Au), Calcium (Ca), Kupfer (Cu), Eisen (Fe), Kalium (K) und Natrium (Na) in Salpetersäure mittels AAS

ab 38,90 EUR inkl. MwSt.

ab 36,36 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2003-04

DIN 50451-2:2003-04
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 2: Calcium (Ca), Cobalt (Co), Chrom (Cr), Kupfer (Cu), Eisen (Fe), Nickel (Ni) und Zink (Zn) in Flusssäure mittels Plasma-angeregter Emissionsspektrometrie

ab 38,90 EUR inkl. MwSt.

ab 36,36 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014-11

DIN 50451-3:2014-11
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 3: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salpetersäure mittels ICP-MS

Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung von den für die Halbleitertechnologie wichtigen Elemente Al, As, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Ge, Hf, In, K, Li, Mg, Mn, Mo, Ni, Nb ...

ab 72,00 EUR inkl. MwSt.

ab 67,29 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2007-02

DIN 50451-4:2007-02
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 4: Bestimmung von 34 Elementen in hochreinem Wasser durch Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)

Diese Norm wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-02-21 AA "Prüfung von Prozesschemikalien für die Halbleitertechnologie" im NMP erstellt. Festgelegt ist ein Prüfverfahren zur Bestimmung der ...

ab 58,90 EUR inkl. MwSt.

ab 55,05 EUR exkl. MwSt.

Norm [NEU] 2022-08

DIN 50451-5:2022-08
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 5: Leitlinie zur Auswahl von Werkstoffen und Prüfung ihrer Eignung für Geräte zur Probenahme und Probenvorbereitung für die Elementspuren-Bestimmung im Bereich von Mikrogramm je Kilogramm und Nanogramm je Kilogramm

Dieses Dokument gibt eine Leitlinie zur Auswahl von Werkstoffen und zur Prüfung ihrer Eignung für Geräte zur Probennahme und Probenvorbereitung, die für die Bestimmung von Verunreinigungen in ...

ab 52,30 EUR inkl. MwSt.

ab 48,88 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2014-11

DIN 50451-6:2014-11
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 6: Bestimmung von 36 Elementen in hochreiner Ammoniumfluorid-Lösung (NH₄F) und Ätzmischungen aus hochreiner Ammoniumfluorid-Lösung mit Flusssäure

Dieses Dokument legt Verfahren zur Bestimmung der Elemente Ag, Al, As, Au, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Ge, In, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, Pb, Pt, Rb, Sb, Sn, Sr, Ti, Tl, V, W, Zn ...

ab 58,90 EUR inkl. MwSt.

ab 55,05 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2018-04

DIN 50451-7:2018-04
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 7: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salzsäure mittels ICP-MS

Dieses Dokument legt Verfahren zur Prüfung von Salzsäure auf 31 Elemente im Spurenbereich fest, wobei als Bestimmungsverfahren die Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) ...

ab 58,90 EUR inkl. MwSt.

ab 55,05 EUR exkl. MwSt.

Norm [NEU] 2022-08

DIN 50451-8:2022-08
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 8: Bestimmung von 33 Elementen in hochreiner Schwefelsäure mittels ICP-MS

Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der für die Halbleitertechnologie wichtigen Elemente Ag, Al, As, B, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, In, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, Pb ...

ab 52,30 EUR inkl. MwSt.

ab 48,88 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1995-11

DIN 50452-1:1995-11
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Teilchenanalytik in Flüssigkeiten - Teil 1: Mikroskopische Teilchenbestimmung

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2009-10

DIN 50452-2:2009-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Teilchenanalytik in Flüssigkeiten - Teil 2: Teilchenbestimmung mit optischen Durchflusspartikelzählern

In dieser Norm ist ein Verfahren zur Bestimmung der Anzahlkonzentration von Partikeln in Flüssigkeiten mittels automatischer Durchfluss-Partikelmessgeräte festgelegt. Das festgelegte Verfahren ...

ab 52,30 EUR inkl. MwSt.

ab 48,88 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1995-10

DIN 50452-3:1995-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Teilchenanalytik in Flüssigkeiten - Teil 3: Kalibrierung von optischen Durchflußpartikelzählern

ab 38,90 EUR inkl. MwSt.

ab 36,36 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1990-10

DIN 50453-1:1990-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1990-10

DIN 50453-2:1990-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen; Siliciumdioxid-Schichten; Optisches Verfahren

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2009-10

DIN 50455-1:2009-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Messverfahren

Diese Norm legt Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken mittels Bestimmung der Dicke von Fotolack-Schichten fest, die unter festgelegten Bedingungen hergestellt werden. Das Verfahren der ...

ab 38,90 EUR inkl. MwSt.

ab 36,36 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 1999-11

DIN 50455-2:1999-11
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken

ab 32,00 EUR inkl. MwSt.

ab 29,91 EUR exkl. MwSt.

Technische Regel [AKTUELL] 2017-02

DIN SPEC 1994:2017-02
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Anionen in schwachen Säuren

Dieser Fachbericht legt ein Verfahren zur Bestimmung der Anionen Chlorid, Sulfat, Nitrat und Phosphat in Flusssäure, Ammoniumfluorid-Lösung und deren Gemische sowie in Essigsäure im Bereich von ...

Verfahren : Fachbericht

ab 41,90 EUR inkl. MwSt.

ab 39,16 EUR exkl. MwSt.

Norm-Entwurf 2021-07-23

21/30428334 DC:2021-07-23 - Entwurf
BS EN IEC 62899-203. Printed electronics. Part 203. Materials. Semiconductor ink

ab 25,70 EUR inkl. MwSt.

ab 24,02 EUR exkl. MwSt.

Norm-Entwurf 2021-12-24

22/30439670 DC:2021-12-24 - Entwurf
BS EN IEC 60146-1-1 ED5. Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters. Part 1-1. Specification of basic requirements

ab 25,70 EUR inkl. MwSt.

ab 24,02 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2010-08-31

BS EN 60146-1-1:2010-08-31
Halbleiter-Stromrichter. Allgemeine Anforderungen und netzgeführte Stromrichter. Festlegung der Grundanforderungen

ab 371,40 EUR inkl. MwSt.

ab 347,10 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2018-10-10

BS IEC 62899-203:2018-10-10
Printed electronics. Materials. Semiconductor ink

ab 246,70 EUR inkl. MwSt.

ab 230,56 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2021-09-08

BS IEC 62899-503-3:2021-09-08
Printed electronics. Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method

ab 177,40 EUR inkl. MwSt.

ab 165,79 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2008

ASTM D 3004:2008
Stranggepreßte duroplastische und thermoplastische Schutzschilde für halbleitende Leitungen und Isolation

ab 46,30 EUR inkl. MwSt.

ab 43,27 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2012

ASTM D 6095:2012
Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials

ab 46,30 EUR inkl. MwSt.

ab 43,27 EUR exkl. MwSt.

Norm [AKTUELL] 2011

ASTM E 1438:2011
Richtlinie für die Messung von Schnittstellenbreiten bei der Aufstäubungstiefenprofilierung mit Hilfe der Sekundärionen-Massenspektroskopie

ab 46,30 EUR inkl. MwSt.

ab 43,27 EUR exkl. MwSt.

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